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三次元プローブステーション

ズームマイクロスコープ
画像モニタ & 画像計測ソフトウェア
ズームマイクロスコープ(右)
ズームマイクロスコープ(左)
マイクロポジショナー
プロービングステージ ポジショナーテーブル(右)
ポジショナーテーブル(左)
ズームマイクロスコープ

本プローブステーションには、同軸落射照明付きの高倍率ズームレンズとCCDカメラを組み合わせた、高性能なズームマイクロスコープが三台搭載されています。
CCDカメラは1/3インチ、光学倍率は0.8×~5.0×です。簡単な操作で変倍、ピント調整が可能です。上部のマイクロスコープにはオプションレンズが装着でき、倍率やワークディスタンスを可変できます。

上部マイクロスコープの位置合わせ 上部に搭載されたCCDカメラ クリックで拡大
上部に搭載された
CCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ

X方向の移動は後部レバーで粗動調節、マイクロメータで微動調節

Y/Z方向の移動は粗動・微動ツマミで調節

左右マイクロスコープの位置合わせ

X方向の移動はマイクロメータで微動調節

ズームマイクロスコープが不要時は取り外しも可能

※拡大画像のウィンドウは、10秒後に自動的にCloseされます
ズームマイクロスコープ

本プローブステーションには、同軸落射照明付きの高倍率ズームレンズとCCDカメラを組み合わせた、高性能なズームマイクロスコープが三台搭載されています。
CCDカメラは1/3インチ、光学倍率は0.8×~5.0×です。簡単な操作で変倍、ピント調整が可能です。上部のマイクロスコープにはオプションレンズが装着でき、倍率やワークディスタンスを可変できます。

上部マイクロスコープの位置合わせ 上部に搭載されたCCDカメラ クリックで拡大
上部に搭載された
CCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ

X方向の移動は後部レバーで粗動調節、マイクロメータで微動調節

Y/Z方向の移動は粗動・微動ツマミで調節

左右マイクロスコープの位置合わせ

X方向の移動はマイクロメータで微動調節

ズームマイクロスコープが不要時は取り外しも可能

※拡大画像のウィンドウは、10秒後に自動的にCloseされます
ズームマイクロスコープ

本プローブステーションには、同軸落射照明付きの高倍率ズームレンズとCCDカメラを組み合わせた、高性能なズームマイクロスコープが三台搭載されています。
CCDカメラは1/3インチ、光学倍率は0.8×~5.0×です。簡単な操作で変倍、ピント調整が可能です。上部のマイクロスコープにはオプションレンズが装着でき、倍率やワークディスタンスを可変できます。

上部マイクロスコープの位置合わせ 上部に搭載されたCCDカメラ クリックで拡大
上部に搭載された
CCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ
左右に搭載されたCCDカメラ

X方向の移動は後部レバーで粗動調節、マイクロメータで微動調節

Y/Z方向の移動は粗動・微動ツマミで調節

左右マイクロスコープの位置合わせ

X方向の移動はマイクロメータで微動調節

ズームマイクロスコープが不要時は取り外しも可能

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プロービングステージ & ポジショナーテーブル

プロービングステージには、X/Y/Z軸マイクロメータ微動調整ツマミと、θ方向に移動できる回転台を装備しています。位置決めを行った後、X方向に平行移動させると基板のライン上を、またY方向に平行移動させるとラインのピッチ間をスムーズに移動でき、連続測定が容易になります。

ポジショナーテーブルにはX/Y/Z軸の調整ツマミを装備。Y軸、Z軸はロック固定することができます。 ポジショナーテーブルと上に置かれるマイクロポジショナーは、強力マグネットでしっかりと吸着固定されます。

ワークプレート上の測定物は、真空ポンプで吸着されており、安定した測定が可能です。付属の真空ペンで測定物の吸引、離脱を簡単に行え、汚れの付着を防げます。

ポジショナーテーブル
ポジショナーテーブル
プロービングステージ プロービングステージ
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プロービングステージ & ポジショナーテーブル

プロービングステージには、X/Y/Z軸マイクロメータ微動調整ツマミと、θ方向に移動できる回転台を装備しています。位置決めを行った後、X方向に平行移動させると基板のライン上を、またY方向に平行移動させるとラインのピッチ間をスムーズに移動でき、連続測定が容易になります。

ポジショナーテーブルにはX/Y/Z軸の調整ツマミを装備。Y軸、Z軸はロック固定することができます。 ポジショナーテーブルと上に置かれるマイクロポジショナーは、強力マグネットでしっかりと吸着固定されます。

ワークプレート上の測定物は、真空ポンプで吸着されており、安定した測定が可能です。付属の真空ペンで測定物の吸引、離脱を簡単に行え、汚れの付着を防げます。

ポジショナーテーブル
ポジショナーテーブル
プロービングステージ プロービングステージ
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プロービングステージ & ポジショナーテーブル

プロービングステージには、X/Y/Z軸マイクロメータ微動調整ツマミと、θ方向に移動できる回転台を装備しています。位置決めを行った後、X方向に平行移動させると基板のライン上を、またY方向に平行移動させるとラインのピッチ間をスムーズに移動でき、連続測定が容易になります。

ポジショナーテーブルにはX/Y/Z軸の調整ツマミを装備。Y軸、Z軸はロック固定することができます。 ポジショナーテーブルと上に置かれるマイクロポジショナーは、強力マグネットでしっかりと吸着固定されます。

ワークプレート上の測定物は、真空ポンプで吸着されており、安定した測定が可能です。付属の真空ペンで測定物の吸引、離脱を簡単に行え、汚れの付着を防げます。

ポジショナーテーブル
ポジショナーテーブル
プロービングステージ プロービングステージ
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マイクロポジショナー&レールポジショナー

マイクロポジショナーは、X-Y-Z軸の3方向からの位置決めにプラスして、2箇所のθ軸回転により高確度な位置決めを保証します。前後、左右および上下方向の位置決めは、X-Y-Z軸のマイクロメーターで微調節します。プローブ先端の平行方向の位置決めは、粗動調整後、θ1軸およびθ2軸で微調節できます(右設計図参照)。マイクロポジショナーは8種類のタイプをご用意しています。

マイクロポジショナー設計図
マイクロポジショナー設計図
マイクロポジショナー
マイクロポジショナー

レールポジショナーは、プローブをレールに沿って移動させるとプローブの向きを90度かえることができます。プローブ上部のθ調節ネジを緩めると、あおり角±3°で移動できます。プローブの向きを水平および垂直方向に簡単に移動できるので、基板やプローブの向きをかえる手間が省けます。プリント基板などの表裏測定に最適です。

レールポジショナー
レールポジショナー
レールポジショナー設置例
レールポジショナー設置例
画像モニタ & 画像計測ソフトウェア

画像モニタを使用すると1台のモニタで最大4系統の映像を表示できます。通常のビデオ出力のほか、SXGA高精細出力またはネットワークを利用した遠隔観察機能が標準装備されています。

画像モニタ・画像計測ソフトウェア<

画像計測ソフトウェアを使用すると簡単な操作で画像の取り込み、画像の比較、画像の計測、レポート作成ができます。

画像計測 : 動画および静止画状態で計測が行えます。計測結果は画像にオーバ-レイされ、 画像と一緒に保存することもできます。

画像反転:動画状態で画像を上下、左右に反転できます。

画像分割:モニタ画面を上下、左右の2分割および4分割表示ができます。

ユーザ定義マーカー、可変ピッチスケール:マーカーと可変ピッチスケールは、動画、静止画上にオーバーレイできるので、限度範囲の確認や位置合わせに利用できます。

特殊効果:画像間論理積/和、排他的論理和、画像間加算、その他多彩な効果を実行できます。

画像の保存、読み込み:画像をJPEG、BMPで保存できます。保存した画像は表示ウインドウだけでなく分割画面でも読み込めるので画像比較が簡単に行えます

※拡大画像のウィンドウは、10秒後に自動的にCloseされます
電源・ライト・真空ポンプスイッチ
エアーバルブセレクトスイッチ
真空ペン
真空ポンプ
をクリックすると別
ウィンドウが表示されます

Application  グッと広がるプロービングバリエーション

 応 用 ●ICパッケージ ●ICソケット ●インターコネクタ ●コンタクトピン
●高周波モジュール ●プリント配線基板 ●ICチップ

DC測定

平面プロービング
DC測定 平面プロービング
平面測定
差動伝送路基板
DC測定 差動伝送路基板
上面
垂直ピン(左)+水平ピン(右)
DC測定 垂直ピン(左)+水平ピン(右)
垂直ピン(左)+水平ピン(右)
多極コネクタ
DC測定 多極コネクタ
上面⁄左側面⁄右側面
垂直ピン(左)+垂直ピン(右)
DC測定 垂直ピン(左)+垂直ピン(右)
端子を両側から測定
ICソケット
DC測定 ICソケット
上面⁄左側面⁄右側面
表裏プロービング
DC測定 表裏プロービング
表面と裏面から測定
両面プリント基板
DC測定 両面プリント基板
上面⁄表面⁄裏面

高周波測定

平面プロービング
高周波測定 平面プロービング
平面測定
差動伝送路基板
高周波測定 差動伝送路基板
上面
垂直ピン(左)+垂直ピン(右)
高周波測定 垂直ピン(左)+垂直ピン(右)
ICソケットピンの測定
ICソケット
高周波測定 ICソケット
上面
表裏プロービング
高周波測定 表裏プロービング
基板パターンの表裏測定
両面プリント基板
高周波測定 両面プリント基板
表面⁄裏面
表裏プロービング
高周波測定 表裏プロービング
ピンの高周波特性を測定
コンタクトプローブ>
高周波測定 コンタクトプローブ
上面⁄表面⁄裏面

仕様  型式 AGPS704-001

本プローブステーションの構成品はユーザの仕様に合わせて
自由にカスタム化が可能です。
各構成品の詳細な仕様に関してはお問い合わせください。

上部マイクロスコープ

カメラ1⁄3インチCCDカメラ38万画素
光学倍率0.8×~5.0×
焦点深度1.47mm~0.10mm
分解能16.64μ~5.23μ
レンズ偏光レンズ(金属などを観察する際の乱反射を軽減)
W.D.※175mm±1mm
カメラマウントCマウント
照明同軸落射照明
補助対物レンズ2.0×、 合計倍率:1.6×~10×、WD:24.5mm±2mm
移動量可動(粗動調整) X:±40mm※2 Y:±50mm※3 Z:±50mm※3
可動(微動調整) X:±6.5mm(目量10μm) Y:±50mm※3 Z:±50mm※3
固定ツマミ: X (1箇所)⁄Y (2箇所)⁄Z (2箇所)
※1 W.D.とはレンズ端面から被測定物までの距離です
※2 最小移動量:2.5mm
※3 ハンドル1回転の移動量 粗動:18mm、微動:2.3mm、最小読み取り:バーニア目盛り0.1mm

左右部マイクロスコープ

カメラ1⁄3インチCCDカメラ38万画素
光学倍率0.75×~4.5×
焦点深度2.5mm~0.09mm
分解能16μ~4μ
レンズテレセントリック系
W.D.95.25mm±3mm
カメラマウントCマウント
照明同軸落射照明
移動量可動(微動調整) X:±6.5mm(目量10μm)
固定ツマミ: X(1箇所)

ライトガイド

ライトガイド3分岐
光源ハロゲンランプ 12V 100W

プロービングステージ

移動量可動 (微動調整) X:±12.5mm Y:±12.5mm(目量10μm)
Z:±5mm(目量10μm)
固定ツマミ: X (1箇所)⁄ Y (1箇所)⁄ Z (1箇所)

θ方向回転台

移動量可動 (粗動調整) θ :360°
可動(微動調整) θ :±5°※4
固定ツマミ: 2箇所

測定試料最大寸法

サイズ80mm (幅)× 80mm (奥行き)× 50mm (高さ)
※4 最小読み取り:バーニア目盛り0.1°

ポジショナーテーブル

移動量可動 (微動調整) X :±12.5mm (目量10μm)
可動(粗微動調整) Y :±64mm※5 Z :0~70mm※6
固定ツマミ: X (1箇所) ⁄ Y (1箇所) ⁄ Z (1箇所)

その他の構成品

高周波プローブ lZlPROBEズース・マイクロテック社製※7
様々なタイプ有り、詳細は別資料参照
4端子法DC測定針タングステンニードル
アクティブ差動プローブシステム用
プローブ針とプローブアンプ
アジレント・テクノロジ社製※8
プローブ針(N5382)、プローブアンプ(1169A)
マイクロポジショナー8タイプ有り、詳細は別資料参照
レールポジショナー1タイプ 機能詳細問い合わせ
マルチビューワ機能詳細問い合わせ
画像計測ソフトウェア機能詳細問い合わせ
ビデオキャプチャユニット機能詳細問い合わせ
防振台卓上タイプ、デスクタイプ、詳細は別資料参照
PNA-Lネットワークアナライザ(例)アジレント・テクノロジ社製
300kHz~50GHz、4 port、機能詳細問い合わせ
ディジタルマルチメーター(例)アジレント・テクノロジ社製
7桁、高速サンプリング、機能詳細問い合わせ
真空ペン機能詳細問い合わせ
真空ポンプ機能詳細問い合わせ

本体寸法と重量

寸法600mm(幅)×400mm(奥行き)×681mm(高さ)
重量36kg


※7ズース・マイクロテック社ロゴ
lZlPROBEはズース・マイクロテック社の登録商標です。弊社は販売代理店です
※8アジレント・テクノロジ社ロゴ
弊社はアジレント・テクノロジ社とチャンネルパートナー契約を締結しています