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![]() ネットワークアナライザを使用したタイプ |
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ネットワークアナライザ代替の |
![]() 平板測定用共振器(5GHz) |
![]() 1〜10GHz用空洞共振器 |
特 長
仕様 (暫定値)
| 測定周波数 | 1〜18GHz |
|---|---|
| 共振器の周波数ポイント | 1つの共振器に付き1点 |
| 測定範囲 | 比誘電率:1〜30 tanδ:0.0001〜0.1 |
| 測定精度 | 比誘電率:±1% tanδ:±5% |
| サンプル形状 | 細長い短冊状、丸棒状、角棒状、薄膜 |
空洞共振器法誘電率測定装置は、マイクロ波周波数帯での誘電率及び誘電損失を測定する装置です。 測定システムにはオシレータ(ネットワークアナライザ代替回路)を使用するタイプと、ネットワークアナライザを使用するタイプがあります。
オシレータタイプは、オシレータ、プローブ、ソフトウェア、アクセサリが含まれます。オシレータタイプの測定回路は、マイクロ波信号発生器、検波機器で構成されています。高価な測定機器が不要ですので、経済的です。ネットワークアナライザタイプには、プローブ、ソフトウェア、アクセサリが含まれ、お手持ちのネットワークアナライザに接続してシステムを構成します。
空洞共振器測定は、共振器を利用した摂動理論に基づく算出方法になります。
測定原理は、共振器内に微小な誘電体や磁性体が挿入すると、共振器内の共振周
波数やQ値が僅かに変化します。この共振周波数やQ値の変化量を測定し、材料の
誘電率および誘電損失を測定する方法が共振法です。
空洞共振器で算出される誘電率はサンプル全体の平均値です。
「空洞共振器法誘電率測定装置」には、弊社独自開発のソフトウェアが付属されています。空洞共振器の挿入口にサンプルを入れると、ソフトウェアの測定ウィザードに従ってボタンをクリックするだけで複雑な誘電率と誘電損失が簡単に測定できます。
測定治具は、空洞共振器(キャビティ)を採用しており、一つの共振器に付き、周波数ポイントは1点です。弊社の空洞共振器は、JIS C2565規格に準拠しております。空洞共振器による測定は、おもに薄膜・多層および複合構造材料、セラミックス、各種樹脂、液体、粉末などですが、様々なお問い合わせを頂いております。
比誘電率の誤差は、±1%です。またtanδの誤差は、±5%です。
サンプルの寸法条件としては、長さが80mm以上、幅が3mm以下、厚さが0.05mm〜1mmです。
本装置では1〜30までの比誘電率を測定することができます。また、誘電正接(tanδ)は、0.0001から0.1までです。
できます。測定サンプルを弊社までお送りください。測定結果を返送させていただきます。
問合せ先:info@aetjapan.com
アジレント社のPNAシリーズ、ENAシリーズ、872xシリーズ、アンリツ社37000シリーズ及びローデ・シュワルツ社のネットワークアナライザが使用できます。それ以外のネットワークアナライザをお持ちの場合は、弊社までお問い合わせください。
問合せ先:info@aetjapan.com