高周波測定サービス
- ■ 4ポートベクトルネットワークアナライザによるミックスモード・差動Sパラメータ測定
- ■ ベクトルネットワークアナライザによるSパラメータ測定（〜50GHz）
- ■ コプレーナプローブによる測定、TEGの作成と測定。
- ■ スペクトラムアナライザによる測定（23GHz）
- ■ Sパラメータからインダクタンス、キャパシタンスの算出。
- ■ LM、LRM法に基づくキャリブレーションモジュール、テストフィクスチャの作成
主要計測器
・Agilent N5230 20GHz 4ポートネットワークアナライザ
・Agilent E8364B 50GHz ネットワークアナライザ
・Agilent E4407B 26.5GHz スペクトラムアナライザ
・Agilent 4991A インピーダンスアナライザ
インピーダンス測定例
AET社製プローブステーション
ズースマイクロテック社製プローブ
プローブステーションにエアコプレーナ・プローブを装備し、マイクロストリップラインのインピーダンスを測定しました。
- 測定機器
- ■機器：プローブステーション（AET社製AGPS501)
- ■測定対象：マイクロストリップライン 長さ30mm
- FR-4基板、 厚み0.2mm
- ■測定周波数：300MHz
- ■校正：キャリブレーションキット
- ■測定プローブ：エアコプレーナ GSG(ズースマイクロテック社製）
- ■インピーダンスアナライザ：E4991A(アジレントテクノロジ社製）
- 校正
- キャリブレーションキットを用いてopen/short校正を行い、プローブヘッドの針先端を測定の基準面とします。
インダクタンスの算出例
測定例：Zo=R＋jX(Ω）
300MHzの時 Zo=0.223＋j18.2899(Ω） Z(im)=jωL
インダクタンス L=18.2899÷(2×π×300e＋6) =9.71nH
測定例：Zo=G＋jX(Ω）
300MHzの時 Zo≒0.00021−j150(Ω） Z(im)=1/jωC
キャパシタンス C=1÷(150×2×π×300e＋6)=3.53pF
- 応用
- ■スパイラルインダクタのインピ−ダンス測定
■PCB 内蔵キャパシタ薄膜誘電体 ■RFIDアンテナ
■ICパッケージ、メモリの浮遊容量測定 ■ディスク、磁気ヘッド など - システム構築
- インピーダンス測定サービスだけでなく、お客様のご要望にあったインピーダンス測定用システムの構築も行っています。
- システム構成
- プローブステーション(AET社製）
- インピーダンスアナライザ（アジレントテクノロジ社製）
- 各種プローブ（ズースマイクロテック社製）
- キャリブレーションキット（AET社製、ズースマイクロテック社製）
※弊社はアジレントテクノロジ社とチャンネルパートナー契約を締結しています。インピーダンスアナライザなどの各種計測機器も特別価格にてご提供します。