信号の遅延・減衰・反射・クロストーク・放射などの信号伝送の品質は材料のもつ電気特性によって大きく左右されます。優れた高周波特性を持つ材料を開発するには、電気材料の特性を正確に把握することが不可欠です。
マイクロ波・ミリ波の知識と経験を有するエーイーティーの誘電率測定は、サンプルの形態・形状に合わせて様々な方法から最適な方法を選択。マルチドメイン電磁界シミュレータ「※MW STUDIO」を用い、従来の解析手法に比べて高精度な測定を実現します。
※MW STUDIOはエーイーティーが販売する3次元電磁界解析ソフトウェアです
誘電率測定は高Q値の共振器技術と3次元電磁界解析をベースにしており、材料と形状に応じて下記のラインナップから最適な方法を選択いたします。
| 方法と周波数 | 材料形状 | 材料 | 特徴 |
|---|---|---|---|
| 同軸共振器 0.8〜18GHz | 自在 | 固体 | マイクロ波領域で非破壊で測定可能 |
| 空洞共振器法 1〜50GHz ※10GHz以上は要相談 | 細長い短冊状 小型円柱 小型角柱 薄膜 |
固体、 液体、 粉体 |
マイクロ波からミリ波領域において高精度に測定可(破壊測定)(JIS C2565 規格準拠) |
| ストリップライン 共振器法 | プレート 薄膜 |
固体 | プリント基板材料等を実際の 使用状態にて測定可能 |
| 同軸反射法 200MHz〜40GHz | 自在 | 液体など | 広帯域の連続した特性を測定可能 |
| 容量法 10MHz〜1GHz | プレート | 固体 | 10MHz〜1GHzまでの連続した特性を測定可能 |
| 誘電体共振器法 20GHz以下 | 円柱 ドーナツ型 | 低損失な高誘電体 | 誘電損失がおよそ0.001以下の低損失材料の測定 (JIS R 1627 準拠) |
これまで、摂動理論に基づく近似計算に頼ってきた誘電率導出プロセスに3次元電磁界解析技術を投入。試料による共振場の歪みまでを高精度に扱うことが可能となり、より高精度な誘電率測定が実現しました。

エーイーティーでは自社開発の誘電率測定装置を販売しております。
弊社の誘電率測定装置は、独自開発の同軸プローブと測定ソフトウェアにより、複雑な誘電率を簡単かつ高精度に測定できる装置です。
試料をプローブの上に置くだけなので、面倒な試料の加工が必要なく、またネットワークアナライザなどの高価な測定機器が不要ですので経済的です。
● 同軸共振器法 誘電率測定装置
● 空洞共振器法 誘電率測定装置
● 誘電体共振器法 誘電率測定装置
詳細は以下のページをご覧ください。
ハードウェア > 誘電率測定装置