スキャナシステム

スキャナシステムは、測定対象上を磁界プローブにて自動走査させ、磁界強度分布(ノイズ) の可視化を行ないます。
NECエンジニアリング社のスキャナシステムは、PCにてスキャナとスペクトラムアナライザを制御し ます。ノイズの対策ポイントや対策効果などを簡単に確認することができ、オフィス環境でノイ ズを把握することができます。

カスタム測定システムのご提案・販売のほか、
測定サービスをご提供しております。 詳しくはこちら

4EM500 高精度スキャナシステム

特長

装置、プリント基板、LSI、 部品、モジュール等の様々な対象物の磁界強度分布を計測・表示することができます。
(各種オプション・カスタマイズ対応可)

仕 様

型番 4EM500
測定対象 装置、プリント基板、LSI、モジュール、部品等
測定方式 4 軸ステージにより磁界プローブを走査
測定範囲 X,Y,Z = 500 × 500 ×210(mm) θ = ±90(deg)
動作ステップ X,Y,Z = 0.01(mm) θ = 1(deg)
対応可能プローブ AEKP001、ALMP001、AEMP001、CP-2SA、MP-10LA、その他各種対応可能
外形寸法 860mm(W) × 862mm(D) × 840mm(H)(突起部を含まず)
質量 約110kg
電源 AC100V-240V 50⁄60Hz
制御用インタフェース モーターコントロールボード(USB or PCI-Express)、GPIB-USB
計測器 スペクトラム・アナライザ

※NECプラットフォームズ社製

プローブ高さ追従機能(オプション)

レーザーによる高さ測定機能により、測定対象の高さに応じて非接触でプローブを追従させながらノイズの分布を測定することができます。

4EM200U 小型スキャナシステム

特長

計測機能はそのまま、高精度スキャナシステムをA3サイズまで小型化し、省スペース化を実現しました。

型番 4EM200U
測定対象 プリント基板、LSI、モジュール、部品等
測定方式 4 軸ステージにより磁界プローブを走査
測定範囲 X,Y,Z = 200 × 200 ×100(mm) θ = 0,90(deg)(2 位置)
動作ステップ X,Y,Z = 0.1(mm)
対応可能プローブ AEKP001、ALMP001、AEMP001、CP-2SA、MP-10LA
外形寸法 297mm(W) × 420mm(D) × 500mm(H)(突起部を含まず)
質量 約15kg
電源 AC100V-240V 50⁄60Hz
制御用インタフェース モーターコントロールカード(USB)、GPIB-USB
計測器 スペクトラム・アナライザ

※NECプラットフォームズ社製

その他機能

実測とシミュレーション

  • MW STUDIOとDEMITASNX(R)※のデータリンク
  • DEMITASNX(R)と測定結果の重ね合わせ表示
  • レーザー位置調整・特定機能

※ DEMITASNX(R)は、NECソリューションイノベータの登録商標です。

高周波測定アクセサリ

測定周波数拡張キット
※ 弊社はキーサイト・テクノロジー合同会社とソリューションパートナー契約を締結しています。