高周波プローブ

  • 長寿命(アルミニウム・金のパッドに対して100 万回レベル)
  • 独立したプローブ先端部構造により、最大50μm のパッド段差を吸収
  • オーバートラベル200μmまでの耐久性
  • 完全な空気絶縁構造によって、最小の挿入損失と最大の反射損失を達成
  • アルミニウム及び金パッド上で、低い接触抵抗と測定精度を達成
  • 最大10K ~ 400℃環境下に対応 ※option 対応
  • 高周波プローブカードに対応
  • 低価格を実現

カスケード・マイクロテック社製の高周波プローブlZl Probeは、DC~50GHzの範囲で低損失、高再現性、高耐久性を実現したプローブです。
それぞれのプローブが独立した長いコンタクトスプリングを持ち、最大50μmのパッドの段差にも対応し、DUTとの安定したコンタクトが可能です。
ウェハおよびパッケージレベルで遠距離通信デバイスや、車載高速デバイス用のレシーバ、トランスミッタなどを高精度に測定します。※特許取得済

※株式会社エーイーティーは、カスケード・マイクロテック株式会社のビジネスパートナーです。

アジャスタブル差動プローブ

周波数 40GHz(GSG) 10GHz(GS⁄SG)
標準ピッチ 100,125,150,200,250μm※ 100,125,150,200,250μm※
筐体Left KLN KLN
Right KRN KRN

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

|Z|Probe GS⁄SG

周波数 10GHz 20GHz
1MX(TM)テクノロジー YES
標準ピッチ 550…1250μm※ 50…500μm※
筐体 スリムケース K1N K1N
スリムケース(高温⁄極低温対応型) Y1N Y1N
スタンダードケース K3N K3N
スタンダードケース(高温対応型) Y3N Y3N
Adjustable Left⁄Right KRN⁄KLN

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

|Z|Probe GSG

周波数 40GHz 50GHz 67GHz
1MX(TM)テクノロジー YES※※ YES YES
標準ピッチ 50…1250μm※ 50…500μm※ 50…250μm※
筐体 スリムケース K1N K1N V1N
スリムケース(高温⁄極低温対応型) Y1N Y1N C1N
スタンダードケース K3N K3N V3N
スタンダードケース(高温対応型) Y3N Y3N C3N
Ajustable Left⁄Right KRN⁄KLN

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

Dual |Z|Probe GSGSG GSSG/SGS

差動測定用高周波プローブ「デュアル」シリーズ、GSGSG・GSSG・SGS に対応

周波数 40GHz⁄50GHz(GSGSG) 18GHz(GSSG⁄SGS)
1MX(TM)テクノロジー YES YES
標準ピッチ 100…500μm※ 100…500μm※
筐体 スタンダードケース K3N⁄A3N K3N
高温⁄極低温対応型 Y3N⁄B3N Y3N

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

|Z|Probe PCB GSG / GS / SG

周波数 4GHz(GS⁄SG) 20GHzまで(GSG)
標準ピッチ 500,650,800,1000,1250,1500,2000,2500μm
(ご要求により、350…4500μmもご提供可能)
筐体 スリムケース P1S
スタンダードケース P3S

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

Multi|Z|Probe GSG ⁄ GS⁄SG,SS

周波数 15GHzまで(GSG) 6GHzまで(GS⁄SG,SS)
デジタル・アプリケーション対応型 25GHzまで(GSG) 7.5GHzまで(GS⁄SG,SS)
標準ピッチ 100,125,150,200,250,500μm 100,125,150,200,250,500μm
コンタクト数 100…200μm 35コンタクトまで 応相談
250μm 25コンタクト 応相談
500μm 7コンタクトまで 応相談

※スペックの詳細、特注のピッチやフットプリントはお問い合わせください。

関連製品