誘電率測定サービス
信号の遅延・減衰・反射・クロストーク・放射などの信号伝送の品質は材料のもつ電気特性によって大きく左右されます。優れた高周波特性を持つ材料を開発するには、電気材料の特性を正確に把握することが不可欠です。
マイクロ波・ミリ波の知識と経験を有するエーイーティーの誘電率測定は、サンプルの形態・形状に合わせて様々な方法から最適な方法を選択。マルチドメイン電磁界シミュレータ「※CST STUDIO SUITE」を用い、従来の解析手法に比べて高精度な測定を実現します。
※CST STUDIO SUITEはエーイーティーが販売する3次元電磁界解析ソフトウェアです。製品詳細ページへ
主な測定物
- 高速ディジタル、マイクロ波回路の基板材料
- 通信用誘電体アンテナ、フィルタ用低損失誘電体、高誘電体
- 薄膜材料、多層構造材料、新素材
- 半導体向け絶縁材料
- 医用電子機器
- 化学薬品
- 粉体
- 液体
※その他素材により測定可能なものもございますので、お問い合わせください。
主な測定方法
誘電率測定は高Q値の共振器技術と3次元電磁界解析をベースにしており、材料と形状に応じて下記のラインナップから最適な方法を選択いたします。
| 材料 | 材料形状 | 周波数 | 特徴 |
|---|---|---|---|
| 測定手法 | |||
| 固体 | 細長い短冊状 | 1～10GHz | マイクロ波領域において高精度に測定可能 (準拠規格：JIS C2565, ASTM D2520, IEC60556） |
| 空洞共振器法 (TMモード) | |||
| 薄膜 | 10～40GHz | 測定試料を挿入するギャップが固定式で挟む方式に比べて測定安定性に優れている (準拠規格：JIS R1641, IPC-TM650 2.5.5.13, IEC62562) | |
| 空洞共振器法 (TEモード) | |||
| 厚み0.5mm以上 | 0.8～18.4GHz | マイクロ波領域で非破壊で測定可能 (特許番号：3691812) | |
| 同軸共振器法 | |||
| プレート | 10MHz～1GHz | 10MHz～1GHzまでの連続した周波数にて測定可能 | |
| 容量法/インピーダンス法 | |||
| 粉体/液体 | 必要なサンプル量 1GHz：10cc 10GHz：3cc | 1～10GHz | 専用設計の共振器によって高精度な測定を実現 粉体は真密度の情報から充填率を計算し粉体自体の誘電率を算出 |
| 空洞共振器法 (TMモード) | |||
| 液体など | 30cc | 200MHz～10GHz | 広帯域の連続した特性を測定可能 |
| 同軸プローブ反射法 | |||
| ケーブル | ケーブル | 2.45～15GHz | 発泡PTFE等、低遅延・低損失電線素材を製品形態で高精度に測定することが可能 |
| 空洞共振器法 (TMモード) | |||
| 低損失な高誘電体 | 円柱 | ～20GHz | 誘電損失がおよそ0.001以下の低損失材料の測定 (準拠規格：JIS R1627, IEC 61338-1-3) |
| 誘電体共振器法 |
CST STUDIO SUITEによる高精度解析
これまで、摂動理論に基づく近似計算に頼ってきた誘電率導出プロセスに3次元電磁界解析技術を投入。試料による共振場の歪みまでを高精度に扱うことが可能となり、より高精度な誘電率測定が実現しました。
誘電率測定装置の販売
エーイーティーでは自社開発の誘電率測定装置を販売しております。
弊社の誘電率測定装置は、独自開発の同軸プローブと測定ソフトウェアにより、複雑な誘電率を簡単かつ高精度に測定できる装置です。
試料をプローブの上に置くだけなので、面倒な試料の加工が必要なく、またネットワークアナライザなどの高価な測定機器が不要ですので経済的です。
※ 詳細は以下のページをご覧ください。
ハードウェア > 誘電率測定システム