空洞共振器法 (TMモード)
フィルム、シート状サンプルの測定に最適


フィルム用切断機(オプション)
フィルム、板/ シート状のサンプルを一定の幅に切断した短冊状のサンプルを測定します。 Q 値の高い共振器設計のため、PTFEや高純度セラミックスのような低誘電損失材料の誘電正接tanδを安定して測定できます。
本方式はJIS C2565 に準拠しており、マイクロ波帯の誘電率測定方式として最も広く採用されている実績のある手法の1つです。
特 長
- 空洞共振器による測定
- 空洞共振器内に小さなサンプルを挿入することで引き起こされる共振特性(共振周波数、Q値)の変化からサンプルの電気的特性を算出します。
- 簡単な測定作業
- サンプルを共振器の中に挿入するだけで短時間に測定できます。
用 途
以下のようなサンプルの測定に適しています。- PCB基板
- 薄膜フィルム
- 樹脂
- ガラスやセラミックス類
仕 様
(暫定値)
測定周波数 | 1GHz ~10GHz |
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共振器の周波数ポイント | 1つの共振器につき1点 |
測定範囲 | 比誘電率:1~30 tanδ:0.1~0.0001 |
測定精度 | 比誘電率:±1% tanδ:±5% |
サンプル形状 | 細長い短冊状(幅 3mm、厚み 0.05~1mm、長さ 80mm 以上) |
準拠規格 | JIS C2565、 ASTM D2520 |
TMモードの特徴
円筒空洞の回転中心軸に沿って電界が発生しているTM モード(TM010/011) を利用します。
電界が最大となる円筒中心軸に測定サンプルを挿入することで、その誘電率に応じて共振が変化します。

測定サンプルの形状とサイズ
測定サンプルの形状は短冊状です。
短冊状の長手方向の誘電率を測定しています。

フィルム用切断機 (オプション)
0.2mm 以下の厚みのフィルム材料の場合、専用の切断機をご用意しております。

装置の概要について
Q6. 測定の精度はどのくらいですか?