空洞共振器法 (TEモード)

当社のTE モード共振器は測定試料を挿入するギャップが固定式であり、共振器でサンプルを挟む方式に比べて 測定安定性に優れています。 柔らかいサンプル、脆いサンプルなど、様々な素材の誘電率測定を可能としています。

特　長

厚み0.3mm 以下のフィルムを測定することに特化した測定手法です。
スプリットシリンダ共振器とも呼ばれ、共振器の間のギャップにシート状サンプルを挿入する方式です。 近年ニーズが高まっている5G( 第5 世代移動体通信方式) へ向けて、40GHz までの周波数に対応します。

用　途

以下のようなサンプルの測定に適しています。

• 5G 対応素材開発
• 高速信号伝送用フレキシブル回路基板

仕　様

測定周波数	10GHz～40GHz
周波数ポイント	1つの共振器につき1点
測定範囲	比誘電率 (Dk)：1～5　　誘電正接（Df / tanδ）：0.01～0.0001
測定精度	比誘電率 (Dk)：±1％　　誘電正接（Df / tanδ）：±5％
サンプル形状	シート状（厚み0.3mm以下、40mm角以上）
準拠規格	JIS R1641　IPC-TM650 2.5.5.13

TEモードの特徴

測定サンプルの形状とサイズ

損失に対する分解能が高く、低損失フィルムの測定に適した方式になります。
平面内の平均的な誘電率を測定しています。